Ôl bys
Gweld gwybodaeth am bynciau ymchwil 'In Situ Patterning of Ultrasharp Dopant Profiles in Silicon'. Gyda’i gilydd, maen nhw’n ffurfio ôl bys unigryw.- Trefnu yn ôl
- Pwysau
- Yn nhrefn yr wyddor
In Situ Patterning of Ultrasharp Dopant Profiles in Silicon
Simon Phillip Cooil, Federico Mazzola, Hagen W. Klemm, Gina Peschel, Yuran R. Niu, Alexei A. Zakharov, Michelle Y. Simmons, Thomas Schmidt, David Evans, Jill A. Miwa, Justin W Wells
Allbwn ymchwil: Cyfraniad at gyfnodolyn › Erthygl › adolygiad gan gymheiriaid
9
Dyfyniadau
(Scopus)
104
Wedi eu Llwytho i Lawr
(Pure)